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Compatibilità Elettromagnetica

DescrizioneDescrizione

Il Laboratorio di Compatibilità Elettromagnetica (EMC) del Dipartimento di Ingegneria Astronautica, Elettrica ed Energetica (DIAEE) dell'Università di Roma "La Sapienza" si trova in Via delle Sette Sale 12B, Roma, Italia, vicino alla Chiesa di S. Pietro in Vincoli. Il Lab è stato fondato nel 1992 per promuovere la ricerca scientifica e supportare le attività di apprendimento relativamente alla tematica EMC. La Prof.ssa Maria Sabrina Sarto è Direttore del Laboratorio dal 1998. Il Laboratorio, inizialmente fondato per eseguire prove EMC condotte in ambiente schermato fino a 100 MHz, è ora dotato di strumenti per misure di emissione/suscettibilità irradiata e caratterizzazioni elettromagnetiche (permettività complessa, efficacia schermante, proprietà di assorbimento radar…) di nuovi materiali avanzati. Le apparecchiature disponibili consentono prove nella gamma di frequenza compresa tra 40 Hz e 70 GHz. Molte attività di ricerca, svolte nell'EMC Lab, sono legate a programmi di ricerca finanziati da istituzioni, istituti di ricerca o industrie nazionali e internazionali. Il Laboratorio sostiene inoltre esercitazioni per diverse classi di Compatibilità Elettromagnetica ed Elettrotecnica di diversi corsi di ingegneria (Ingegneria Elettrica, Ingegneria Aerospaziale, Ingegneria delle Nanotecnologie). _________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________ Electromagnetic Compatibility (EMC) Laboratory of the Department of Astronautical, Electrical and Energy Engineering (DIAEE) of the University of Rome "La Sapienza" is located in Via delle Sette Sale 12B, Rome, Italy, close to the Church of S. Pietro in Vincoli. The Lab was founded in 1992 to promote scientific research and support EMC learning activities. Prof. Maria Sabrina Sarto has been the laboratory Director since 1998. The Lab, initially founded to perform EMC conducted tests inside a shielded room up to 100 MHz, is now provided with instruments for radiated emission/susceptibility measurements and electromagnetic characterizations (complex permittivity, shielding effectiveness, radar absorbing properties…) of new advanced materials. The available equipment allows tests in the frequency range between 40 Hz and 70 GHz. Many research activities, carried out in the EMC Lab are related to research programs financed by national and international institutions, research institutes or industries. Moreover, the Lab supports exercitations for several classes of Electromagnetic Compatibility and Electrotechnics of different engineering courses (Electrical Engineering, Aerospace Engineering, Nanotechnology Engineering).


ResponsabileResponsabile

NomeE-mailStruttura
Maria Sabrina Sarto Mariasabrina.Sarto@uniroma1.it DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA ASTRONAUTICA, ELETTRICA ED ENERGETICA

Dipartimento o centro ospitanteDipartimento o centro ospitante
DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA ASTRONAUTICA, ELETTRICA ED ENERGETICA
AttivitàAttività
  • Didattica 5 %
  • Ricerca 90 %
  • Servizio 5 %
KeywordsKeywords
electromagnetic compatibility (EMC)EMCEMC/IEMI
KETKET
Advanced materialsNanotecnologie
Personale docente e di ricercaPersonale docente e di ricerca

NomeE-mailStruttura
Hossein Cheraghi Bidsorkhi hossein.cheraghibidsorkhi@uniroma1.it DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA ASTRONAUTICA, ELETTRICA ED ENERGETICA
Alessandro Giuseppe D'Aloia alessandrogiuseppe.daloia@uniroma1.it DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA ASTRONAUTICA, ELETTRICA ED ENERGETICA
Giovanni De Bellis giovanni.debellis@uniroma1.it DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA ASTRONAUTICA, ELETTRICA ED ENERGETICA
Marco Fortunato marco.fortunato@uniroma1.it DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA ASTRONAUTICA, ELETTRICA ED ENERGETICA
Fabrizio Marra fabrizio.marra@uniroma1.it DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA ASTRONAUTICA, ELETTRICA ED ENERGETICA
Alessio Tamburrano alessio.tamburrano@uniroma1.it DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA ASTRONAUTICA, ELETTRICA ED ENERGETICA

Responsabile tecnico TABResponsabile tecnico TAB

NomeE-mailStruttura
Fabrizio Marra fabrizio.marra@uniroma1.it DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA ASTRONAUTICA, ELETTRICA ED ENERGETICA

Personale tecnico TABPersonale tecnico TAB

NomeE-mailStruttura
Fabrizio Marra fabrizio.marra@uniroma1.it DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA ASTRONAUTICA, ELETTRICA ED ENERGETICA

Strumenti e attrezzatureStrumenti e attrezzature

NomeDescrizioneServizi offerti
Reverberation Chamber (RC)Modello: basato su camera schermata S+M Components Caratteristiche principali: Dimensioni: 3,52 m × 2,95 m × 2,49 m Frequenza minima: 300 MHz Motore passo-passo Sanyo Denki 103H8221-62 con riduttore Transtecno CM030 1 : 50 (risoluzione passo 0,0072°)prove di emissione irradiata test di suscettibilità test di schermatura (configurazione RC nidificati)
Analizzatore di rete vettoriale (VNA)Modello: Anritsu VectorStar MS4647A Caratteristiche principali: • 2 porte • Gamma di frequenza: 70 kHz-70 GHz • Connettori a V (opzione 11) • Dominio del tempo (opzione 1) • Estensione della frequenza di 70 kHz (opzione 70)Parametri S Caratterizzazioni di dispositivi passivi e attivi Misurazioni delle proprietà dei materiali Sorgente/ricevitore di segnali RF
Analizzatore di rete vettoriale (VNA)Modello: Agilent N5245A PNA-X Caratteristiche principali: • 4 porte • Intervallo di frequenza: 10 MHz-50 GHz • Modalità offset di frequenza (opzione 080) • Modulatore di impulsi (opzione 021) • 4 generatori di impulsi (opzione 025) Parametri S e parametri X Caratterizzazione dei dispositivi passivi e attivi Misure delle proprietà dei materiali Sorgente/ricevitore di segnali RF
Analizzatore di impedenza di precisioneModello: Agilent 4294A Caratteristiche principali: • Gamma di frequenza: 40 Hz-110 MHz • Precisione dell'impedenza di base: +/-0,08 %Misura di impedenza di due componenti terminali passivi Componenti a semiconduttore Valutazione della permissività e della tangenza di perdita di materiali dielettrici Valutazione della permeabilità e della tangenza di perdita di materiali magnetici
Amplificatori RFModello 75A250 • Potenza in uscita, CW: 75 W • Gamma di frequenza: 10 kHz-250 MHz Modello 30W1000B • Potenza in uscita, CW: 30 W Modello 25S1G4A • Potenza in uscita, CW: 25 W • Intervallo di frequenza: 800 MHz-4,2 GHz Amplificatori a banda larga progettati per applicazioni in cui sono richieste larghezza di banda istantanea e amplificazione di potenza
Analizzatore di spettroModello: FSH3 Rohnde&Schwarz • Gamma di frequenza: 100 kHz-3 GHz • Larghezza di banda di risoluzione: 100 Hz-1 MHz • Opzione distanza dal guasto (FSH-B1) • Ponte VSWR e divisore di potenza (FSH-Z2) • Sensore di potenza (FSH-Z1) • Demodulatore audio AM/FMAnalisi spettrale di segnali elettrici Misuratore di potenza RF portatile ad alta precisione Prove riflettometriche nel dominio del tempo
Generatore di segnali RF/microondeModello: Anritsu MG3692A Caratteristiche principali: Intervallo di frequenza: 0,1 Hz-20 GHz Potenza massima livellata in uscita: 15 dBm Risoluzione: 0,01 Hz (0,02 Hz sotto 10 MHz)Generazione di frequenze CW Generazione di sweep a banda larga e stretta sulla gamma di frequenze dello strumento Fornisce AM, FM, ΦM (modulazione di fase) e modulazione a impulsi del segnale di uscita utilizzando sorgenti modulanti interne o esterne
Analizzatore di spettroModello: Anritsu MS2665C Caratteristiche principali: Intervallo di frequenza: 9 kHz-21,2 GHz min. larghezza di banda di risoluzione: 30 Hz Massimo livello di ingresso: +30 dBm Livello di rumore medio: ≤–98 dBm Analisi spettrale dei segnali
OscilloscopioModello: LeCroy WavePro 7100 Caratteristiche principali: Frequenza di campionamento: 20 GS/s (2 canali) – 10 GS/s (4 canali) Larghezza di banda analogica a 50 Ω: 1 GHz Canali di ingresso: 4 Impedenza di ingresso: 50 Ω; 1 MΩ/11pF tipicoMisurazioni e analisi delle forme d'onda
Generatore di funzioni arbitrarieModello: Tektronix AFG 3252 Caratteristiche principali: Canali: 2 Forme d'onda: seno, quadrato, impulso, rampa, triangolo, sin(x)/x, aumento e decadimento esponenziale, gaussiano, Lorentz, Haversine, DC, rumore Efficace frequenza massima in uscita: 24Generazione di forme d'onda
Analizzatore di segnali complessiModello: MicroRaD NHT3D Intervallo di frequenza (selettivo): DC-400 kHz Gamma di frequenza (banda larga): DC-40 GHz Analisi nel dominio del tempo e nel dominio della frequenza Gamma dinamica: >100 dBMisure di campo elettrico e magnetico
B-Field sensorModello: Wandel & Goltermann EM Field Analyzer EFA-2 Caratteristiche principali: Intervallo di frequenza: 5 Hz-30 kHz Campo di misura: 10 nT-10 mT Misura isotropaMisura dell'intensità del campo magnetico nella gamma delle basse frequenze
Misuratore di resistenza elettromagnetica da tavoloModello: PMM 8051 Caratteristiche principali: Intervallo di frequenza: 10 Hz-18 GHz Sonda di campo elettrico isotropo (B07) Intervallo di frequenza della sonda: 10 Hz - 10 kHz Risoluzione sonda: 50 V/m Fondo scala sonda: 12000 V/m Collegamento in fibra Misura dell'intensità del campo elettrico nella gamma delle basse frequenze
Double Ridged AntennasModello: EM-6961 Caratteristiche principali: Intervallo di frequenza: 1 GHz-18 GHz Impedenza di uscita: 50 Ω nominale Guadagno di potenza medio: 10,7 dB Larghezza media del fascio: 53° (piano E); 48° (piano H) Potenza per 200 V/m @ 10 GHz: 90 WTrasmette e riceve onde elettromagnetiche
Horn AntennasModello: su misura Caratteristiche principali: Intervallo di frequenza: 8 GHz-18 GHzTrasmissione e ricezione di onde elettromagnetiche
Loop AntennasModello EMCO MODELLO 6509 Antenna ad anello passiva Intervallo di frequenza: 1 kHz-30 MHz Modello ALR 30A Antenna ad anello attiva Intervallo di frequenza: 9 kHz-30 MHzEfficacia schermante, immunità, prove di emissione magnetica
AntenneModello EM-6951 Intervallo di frequenza: 300 MHz-1 GHz Modello LPA-30 Intervallo di frequenza: 200 MHz-1000 MHz Modello BIA-30S Intervallo di frequenza: 20 MHz-300 MHzTrasmissione e ricezione di onde elettromagnetiche
Near Field Probe SetModello: EMCO EHFP-30 Caratteristiche principali: 3 sonde di campo magnetico (anello da 6 cm, 3 cm e 1 cm) 2 sonde di campo elettrico (sfera da 3,5 cm, stub da 0,3 cm) 1 maniglia di prolunga (20 cm)Test diagnostici delle emissioni irradiate
Portacampioni coassiali flangiatiModello 1: Intervallo di frequenza: 30 MHz – 1,5 GHz Modello 2: Intervallo di frequenza: ~200 MHz – 8 GHz Modello 3: Intervallo di frequenza: ~1 GHz – 18 GHzMisurazione dell'efficacia della schermatura di materiali planari (ASTM D4935)
Rectangular Waveguides SetModello: Flann Microonde e modelli su misura Caratteristiche principali: WR90: banda X (8,2 GHz – 12,4 GHz) WR62: banda Ku (12,4 – 18 GHz)Misura della permittività relativa complessa dei materiali solidi (ASTM D5568)
Dielectric Test FixtureModello: Agilent 16451B Caratteristiche principali: Frequenza ≤ 30 MHz Dimensioni del materiale in prova: spessore ≤ 10 mm; diametro = da 10 a 56 mmMisurazione della permittività relativa complessa di materiali solidi sottili utilizzando il metodo della piastra parallela (ASTM D150)
Coaxial Verification KitModel: Keysight 85051B
Electronic Calibration Kits
Mechanical Calibration KitsModel 1: HP 85032E Model 2: Anritsu 3653 Model 3: Anritsu 3652 Model 4: Keysight 85050D
Line Impedance Stabilization Network (LISN)Model: Electro-Metrics ANS-25/2 Main Characteristics: Frequency range: 10 kHz – 100 MHz Power line frequency: DC to 400 Hz Maximum current: 25 A Connectors: BNC (monitor port), Superior plug/socket receptacles (power input/output)To isolate an electrically operated device from external power source High frequency conducted measurements
DAQ DevicesModel 1: NI USB-6210 Model 2: NI USB-6000for test, control, and design applications including portable data logging, field monitoring, embedded OEM, in-vehicle data acquisition…
AC/DC Current Probe AmplifierModel: Tektronix AM 503B
RF Current probesModel 1: FCC F-35A Model 2: FCC F-65Current measurements
Current Probes/ClampsModel 1: Fluke i1000s Model 2: Fluke i200-i200s Model 3: Fluke 337 True-rms Clamp Meter Model 4: Tektronix A6303
Surface ProbesModel 1: FCC F-90 Model 2: FCC F-91Measurements of currents on metallic conductors with flat regions such as ground planes, striplines, printed wiring boards, bundles of wire and architectural structures
Infrared Temperature ProbeModel: Fluke 80T-IRTemperature measurements for applications where object being measured cannot be touched
Etching MachineModel: Nuova Delta Elettronica GA 1300Foam etching of mono and double-sided circuits.
BromographerModel: Nuova Delta Elettronica TR-900PCB photo-etching
Soldering StationModel: Weller WP-65
Makeblock XY plotterDrawing Mini CNC Laser engraving
VariacModel: Type V-20 (Belotti)

UbicazioneUbicazione

Nome stanzaEdificioPiano
L002 RM032 PTE

Altre informazioniAltre informazioni

Caratterizzazione EM dei materiali: Misurazioni dell'efficacia della schermatura Proprietà di assorbimento del radar Misure di permittività complesse Prove riflettometriche Caratterizzazione di dispositivi attivi e passivi Misure di campo elettromagnetico Campi magnetici a frequenza di rete Campi elettrici a frequenza di rete Campi EM a radiofrequenza Misure attuali Correnti di frequenza di alimentazione Correnti impulsive _______________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________ EM characterization of materials: Shielding effectiveness measurements Radar absorbing properties Complex permittivity measurements Reflectometric tests Active and passive devices characterization Electromagnetic field measurements Power frequency magnetic fields Power frequency electric fields Radio frequency EM fields Current measurements Power frequency currents Pulse currents


 


Galleria
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 Reverberation Chamber (RC)
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Vector Network Analyzer (VNA)
3 / 21
Vector Network Analyzer (VNA)
4 / 21
Precision Impedance
5 / 21
RF Amplifiers
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Spectrum Analyzer
7 / 21
RF/Microwave Signal Generator
8 / 21
Spectrum Analyzer
9 / 21
Oscilloscope
10 / 21
Arbitrary Function Generator
11 / 21
Analyzer For Complex Signals
12 / 21
B-Field sensor
13 / 21
Portable Electromagnetic Strength
14 / 21
Double Ridged Antennas
15 / 21
Horn Antennas
16 / 21
Loop Antennas
17 / 21
Antennas
18 / 21
Near Field Probe Set
19 / 21
Flanged Coaxial Sample Holders
20 / 21
Rectangular Waveguides Set
21 / 21
Dielectric Test Fixture

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